부품 번호 PD02LEEC44

Semiconductor Device Test Set

가격 및 가용성

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부품 번호
비무장화
수명
UOM
NIIN
부품 번호:
pd02leec44
비무장화:
No
수명:
N/A
측정 단위:
No qup EA
NIIN:
015003007

부품 정보
Supplied accessories will be: one pair of microprobes, common test leads, two mini-clip leads, power cord

NSN
국가 주식 번호:
6625-01-500-3007 6625015003007
TXT
묘사:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
아이템 이름 코드:
25006
MRC:
The value,or range of values,of root mean square potential for which the item is rated.ACYN
Ac Voltage Rating:
100.0 volts and 115.0 volts and 230.0 volts
MRC:
The number of complete cyclic changes,per unit of time,for which an item is rated.ACZB
Frequency Rating:
Between 50.0 hertz and 400.0 hertz
MRC:
The relationship of the electrical power source to the item.AKWC
Electrical Power Source Relationship:
Operating
MRC:
An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ
Inclosure Feature:
Multiple item w/carrying case
MRC:
Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY
Test Type For Which Designed:
Troubleshooting
MRC:
The number of alternating current phases.FAAZ
Phase:
Single

{lang[cimilar]} Semiconductor Device Test Sets

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