부품 번호 LCR55A

Semiconductor Device Test Set

가격 및 가용성

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부품 번호
비무장화
수명
UOM
NIIN
부품 번호:
lcr55a
비무장화:
Yes - DEMIL/MLI
수명:
N/A
측정 단위:
1 EA
NIIN:
015683263
NSN
국가 주식 번호:
6625-01-568-3263 6625015683263
TXT
묘사:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
아이템 이름 코드:
25006
INC
COM
컴플라이언스:
* ITAR Controlled
MRC:
A measurement taken at right angles to the length of an item,in distinction from thickness.ABGL
Width:
38.0 millimeters
MRC:
A measurement of the longest dimension of any object,in distinction from width.ABRY
Length:
183.0 millimeters
MRC:
A linear measurement from the surface to a specified inner point on an item,in distinction from height.AEJZ
Depth:
79.0 millimeters
MRC:
Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY
Test Type For Which Designed:
Inductance, coapacitance, resistance, transistors, diodes

{lang[cimilar]} Semiconductor Device Test Sets

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