부품 번호 160

Semiconductor Device Test Set

가격 및 가용성

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사생활 | 용어

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부품 번호
비무장화
수명
UOM
NIIN
부품 번호:
160
비무장화:
No
수명:
N/A
측정 단위:
1 EA
NIIN:
004119641
NSN
국가 주식 번호:
6625-00-411-9641 6625004119641
TXT
묘사:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
아이템 이름 코드:
25006
MRC:
An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ
Inclosure Feature:
Single item w/housing
MRC:
Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY
Test Type For Which Designed:
Transistor tester
MRC:
The number of alternating current phases.FAAZ
Phase:
Single

{lang[cimilar]} Semiconductor Device Test Sets

« Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments {lang[catalog]}
  • 4328A
    NSN: 6625-00-411-9643
  • 341
    NSN: 6625-00-411-9644
  • H2
    NSN: 6625-00-411-9659
  • 187
    NSN: 6625-00-411-9660
  • AF82-PD-203A
    NSN: 6625-00-411-9663
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