Testing Lab Of North America Inc

범주: Semiconductor Devices and Associated Hardware United States
Cage Code: 8Z235
유형 코드: F
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항목
국가 주식 번호
항목 설명
부품 번호:
6749W10P008 장치
NSN:
5961-01-276-6030
다이오드 반도체 장치
부품 번호:
JANTXV-1N974B1 장치
NSN:
5961-01-276-6032
다이오드 반도체 장치
부품 번호:
6749W10P008 장치
NSN:
5961-01-368-9744
다이오드 반도체 장치

부품 카테고리 필터

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